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      產(chǎn)品名稱:
      fischerscope膜厚儀代理
      發(fā)布時間:
      2025-06-06
      產(chǎn)品品牌:
      Helmut Fischer/德國菲希爾
      產(chǎn)品特點:
      fischerscope膜厚儀代理
      FISCHERSCOPE X-RAY XDL /XDLM系列與XUL/XUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管,可以測量細小的部件,對低輻射組分有較好的激勵作用。
        XDLM237fischerscope膜厚儀代理的詳細資料:

      FISCHERSCOPE X-RAY XDL /XDLM系列與XUL/XUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管,可以測量細小的部件,對低輻射組分有較好的激勵作用。此外,XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造良好的激勵條件。

      產(chǎn)品型號

      •        FISCHERSCOPEX-RAY XDL M231 熒光鍍層測厚儀

      •        FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232 x射線熒光鍍層測厚儀

      •        FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀

      fischerscope膜厚儀代理

      兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點,由于接收器的接收面積很大,仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率,確保良好的重復精度。比較XUL和XUM儀器而言,XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從.上到下。它們被設(shè)計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說它們可以配備簡單支板,各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求。配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面,這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品,當測量門開啟時,XY工作臺自動移動到加載位置,同時激光點指示測量點位置。對于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側(cè)面有開口(C形槽)。由于測量室空間很大,樣品放置方便, 儀器不僅可以測量 平面平整的物體,也可以測量形狀復雜的大樣品(樣品高度可達140mm)。Z軸可電動調(diào)整的儀器,測量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇,這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。

      特征:

           。帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗和鎢靶的微聚焦X射線管。
           。*高工作條件:50KV,50W
           。X射線探測器采用比例接收器
           。準直器:固定或4個自動切換,0.05 x0.05 mm到00.3 mm
           ?;緸V片:固定或3個自動切換
           。測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
           。固定樣品支撐臺,手動XY工作臺
           。攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。
           ??潭染€經(jīng)過校準,顯示實際測量點大小。
           。設(shè)計獲得許可, 防護全面,符合德國X射線條例第4章第3節(jié)


      典型應(yīng)用領(lǐng)域:

           。大批量電鍍件測量
           。防腐和裝飾性鍍層,如鎳或銅上鍍鉻
           。電鍍行業(yè)樓液分析
           。線路板行業(yè)如薄金,鉑和鎳鍍層的策略
           。測量接插件和觸點的鍍層
           。電子和半導體行業(yè)的功能性鍍層測量
           。黃金,珠寶和手表行業(yè)



      應(yīng)用實例

      XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如良好或突起,測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時,就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強度。

      fischerscope膜厚儀代理

      德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數(shù)規(guī)格:

      通用規(guī)格

      設(shè)計用途

      能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu), 分析合金和微量組分。

      元素范圍

      從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM? BASIC軟件時,多可同時測定24種元素

      形式設(shè)計

      臺式儀器,測量門向上開啟

      測量方向

      從上到下


      X射線源

      X射線管

      帶鈹窗口的微聚焦鎢管

      高壓

      三檔: 30 kV,40 kV,50 kV

      基本濾片

      3種可切換的基本濾片(標準配置:鎳,鋁,無)

      測量點

      取決于測量距離及使用的準直器大小, 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的* 小的測量點大小: 光圈約? 0.1 mm(選用準直器0.05x0.05 mm時)

      X射線探測

      X射線接收器

      測量距離

      比例接收器

      0 ~ 80 mm,使用保護的DCM測量距離補償法

      視頻系統(tǒng)

      視頻系統(tǒng)

      高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦,

      對被測位置進行監(jiān)控 十字線(帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸) 可調(diào)節(jié)

      亮度的LED照明,激光光點用于定位樣品

      放大倍數(shù)

      40x - 160x

      電氣參數(shù)

      電源要求

      交流 220 V 50 Hz

      功率

      大 120 W (不包括計算機)

      保護等級

      IP40

      尺寸規(guī)格

      外部尺寸

      寬x深x高[mm]:570 x 760 x 650

      內(nèi)部測量室尺寸

      重量

      寬x深x高[mm]:460 x 495 x 146

      120kg




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