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      產(chǎn)品中心Products 首頁 > 產(chǎn)品展示 > 德國菲希爾FISCHER > Fischer x-ray熒光測厚儀 > 菲希爾進口X熒光射線測厚儀XDL
       
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      產(chǎn)品名稱:
      菲希爾進口X熒光射線測厚儀XDL
      發(fā)布時間:
      2025-04-16
      產(chǎn)品品牌:
      Helmut Fischer/德國菲希爾
      產(chǎn)品特點:
      菲希爾進口X熒光射線測厚儀XDL
      菲希爾X射線測厚儀,測量精度非常高,根據(jù)用戶的實際情況進行選配定制
        菲希爾進口X熒光射線測厚儀XDL的詳細資料:

      菲希爾進口X熒光射線測厚儀XDL

      菲希爾進口X熒光射線測厚儀XDL

      設計用途:能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF), 用于測定超薄鍍層和溶液分析。

      元素范圍:從元素 氯(17) 到 鈾(92),配有可選的WinFTM® BASIC軟件時,最多可同時測定24種元素。

      測量方式:從上往下;

      設計理念:臺式儀器,測量向上開啟。

      X射線探測:X射線接收器,比例接收器。

      該系列型號采用定制,每一臺的設備都是根據(jù)用戶實際情況,測量需求所配置的。所以兼容性是非常高的。

      測量距離:0~80mmsh使用自研的DCM測量距離補償法。

      樣品定位:視頻系統(tǒng),高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置

      產(chǎn)品相關關鍵字: 菲希爾測厚儀 X熒光射線 進口測厚儀 XDL測厚儀
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