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儀器可用于測(cè)量表面溫度高達(dá)538℃的材料的厚度，但要使用特殊的高溫雙晶探頭HT400型。高溫應(yīng)用還需要一種特殊耦合劑(GE公司的ZGM)以及采用特殊的忙閑度。建議采用以下步驟。

根據(jù)2.5或2.6節(jié)中適當(dāng)?shù)牟襟E校準(zhǔn)DM4。
使用前將導(dǎo)管內(nèi)ZGM高溫耦合劑攪動(dòng)。*清潔被測(cè)件表面。然后將一滴{約豌豆大小)耦合劑放置在探頭接觸面，而不是被測(cè)件上。仔細(xì)地將探頭耦合到被測(cè)件表面。為了防止損壞探頭面，在與被測(cè)件表面接觸期間不要扭轉(zhuǎn)表面。雙晶探頭接觸彎曲表面時(shí)，正確放置串?dāng)_屏障,如6.1.3所述。允許2至3秒讓ZGM耦合劑融化，從而提供良好的耦合。溫度大于550℃時(shí)，ZGM耦合劑會(huì)自動(dòng)點(diǎn)火，但不影響耦合質(zhì)量。

探頭耦合時(shí)間不要大于5秒。如果5秒內(nèi)沒(méi)有出現(xiàn)厚度讀數(shù),移開(kāi)探頭，讓它在空氣中冷卻。在彎曲的表面，輕柔地?fù)u擺探頭可幫助達(dá)到良好的耦合。耦合期間，隨著探頭變熱，讀數(shù)會(huì)向上漂移。采用MIN(最小值捕捉)方式可幫助減少該問(wèn)題的影響。

在204℃以下測(cè)量時(shí)，可采用100%忙閑度。探頭不需要冷卻。
 如果在204℃以上取厚度讀數(shù)，需按以下要求冷卻探頭:溫度204℃至287℃，冷卻15秒。
溫度287℃至538℃，冷卻30至120秒。
取另一個(gè)讀數(shù)之前，仔細(xì)地擦去探頭上余留的耦合劑及殘留物。
在高溫測(cè)得的厚度測(cè)量值必須根據(jù)溫度對(duì)材料聲速的影響進(jìn)行糾正。聲波在鋼中的速度以每100?-1.0%的比率變化。
有些應(yīng)用可能超出儀器的功能。如果用該步驟嘗試幾次后高溫測(cè)量值仍不能令人滿(mǎn)意，則高溫探頭和探傷儀儀器同時(shí)使用可達(dá)到較好的效果。